无损检测及智能传感器发展趋势Recent trends in non-destructive testing, quality inspection and smart sensor design
时 间 | 地 点 | 讲座题目 | 主讲人 | 主办 |
5月15日 10：00-12：00 | 研究生院3-133 | 无损检测及智能传感器发展趋势Recent trends in non-destructive testing, quality inspection and smart sensor design | Peter W. Tse（谢伟达） | 空天科学与工程学院 |