特别专题

无损检测及智能传感器发展趋势Recent trends in non-destructive testing, quality inspection and smart sensor design

讲座题目

主讲人

主办

5月15日

10:00-12:00

研究生院3-133

无损检测及智能传感器发展趋势Recent trends in   non-destructive testing, quality inspection and smart sensor design

Peter W. Tse(谢伟达)

空天科学与工程学院